Epsilometer – Dielektrikum Vermessung

Diese Epsilometerlösung zur Messung der dielektrischen Eigenschaften von Materialien misst dielektrische Substratmaterialien bei Frequenzen von 3 MHz bis 6 GHz und kann Blattproben von 0,3 bis 3 mm Dicke aufnehmen. 

Diese Lösung verwendet eine neue Methodik, so Dr. John Schultz von Compass Technology: "Im Gegensatz zu früheren dielektrischen Analysetechnologien verwendet diese neue Methode die rechnergestützte elektromagnetische Modellierung, um die dielektrische Permittivität und den Verlust umzukehren. Dies ist ein bedeutender Fortschritt gegenüber herkömmlichen Methoden, die analytische Annäherungen verwenden und auf Frequenzen unter 1 GHz beschränkt sind."