Sind auch Sie es leid, zeitraubende und komplexe Versuchsaufbauten für dielektrische Materialmessungen im Millimeterwellen- und Terahertz-Bereich einzurichten? Dann könnte unser Materialcharakterisierungs-Kit (MCK) genau das Richtige für Sie sein!
Das MCK wurde entwickelt, um Ihre Messprozesse zu vereinfachen und zu beschleunigen. Vergessen Sie aufwendige Vorbereitungen und Justierungen, die bei herkömmlichen Freiraum-Messmethoden nötig sind.
- Keine Probenvorbereitung: Im Gegensatz zu vielen anderen Techniken ist in vielen Fällen keine spezielle Probenpräparation erforderlich. Setzen Sie einfach Ihre festen, weichen, flüssigen oder pulverförmigen Proben in das Kit ein.
- Intuitive Bedienung: Dank seines selbstausrichtenden Designs ist der Aufbau denkbar einfach.
- Blitzschnelle Kalibrierung: Wenige Klicks, ersetzt langwierige Prozesse.
- Messen mit einem Klick: Nach der schnellen Kalibrierung ist die Messung der Probe nur noch einen Klick entfernt.
Das MCK kann nahtlos mit den meisten konventionellen Vektor-Netzwerkanalysatoren (VNAs) zusammenarbeiten, die den geforderten Frequenzbereich unterstützen und eine Zeitbereichs-Erweiterung enthalten (wie z.B. der A2202-DFx von Copper Mountain).
Die Kerninnovation des MCK liegt in der leistungsstarken, browserbasierten Software(platformunabhängig). Diese steuert Ihren VNA direkt für schnelle Datenerfassung und nutzt fortschrittliche, spezialisierte Algorithmen zur Ermittlung der Materialeigenschaften.
Erhältlich sind unterschiedliche Varianten in einem Frequenzspektrum von 25 GHz bis zu 1100 GHz. Rufen Sie uns dazu gerne an und besprechen Sie Ihren Bedarf mit einem unserer Produktexperten oder besuchen Sie unsere Website!
